雷達式物位計物位控制過程
更新時間：2018-05-25 點擊次數(shù)：4313次
雷達式物位計物位控制過程
雷達式物位計是依據(jù)時域反射原理(TDR)為基礎(chǔ)的雷達料位計，雷達式物位計的電磁脈沖以光速沿鋼纜或探棒傳播，當遇到被測介質(zhì)表面時，雷達物位計的部分脈沖被反射形成回波并沿相同路經(jīng)返回到脈沖發(fā)射裝置，發(fā)射裝置與被測介質(zhì)表面的距離同脈沖在其間的傳播時間成正比，經(jīng)計算得出液位高度。
在雷達式物位計物位的過程控制中，很多場合只需要將物位控制在一定范圍內(nèi)，而并不需要測量其位置；或在物位越過某一極限位置（高位或低位）時，發(fā)出控制或報警信號，這類應(yīng)用的需求量很大，早期主要應(yīng)用浮球式液位控制器或電接點式液位控制器。由于原理限制，許多場合不能應(yīng)用，電子型物位控制器的發(fā)展極大地擴展了這類應(yīng)用。zui典型的產(chǎn)品就是振動阻尼式物位控制器（音叉物位開關(guān)），不但能應(yīng)用于液體，還能應(yīng)用于固體物料，有多種形式的信號輸出，有些還有自診斷功能。此外，還有多種原理的產(chǎn)品，如：超聲式、光導(dǎo)式、熱導(dǎo)式、雷達式等等，都是微電子技術(shù)與非電量電測技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)品。
